Selon des sources, Tesla a retardé les tests multi-projets de la puce AI6 sur le nœud 2nm de Samsung Electronics.

Golden Ten Data, le 10 mars – En raison du report par le client majeur Tesla du test MPW (Multi-Project Wafer) de la puce AI6 sur le nœud 2nm de Samsung Electronics, la fonderie de Samsung a été contrainte de repousser de six mois le service de test initialement prévu en avril de cette année. Cela a impacté le projet DX-M2 de l’entreprise fabless sud-coréenne DEEPX. La nouvelle génération de puces d’IA générative de DEEPX destinées aux équipements ne pourra pas être produite en masse comme prévu au deuxième trimestre 2027. Il semble désormais que les tests de qualité seront achevés au troisième trimestre 2027, et que les ventes à grande échelle ne pourront débuter qu’au quatrième trimestre 2027.